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DFT-ID定义 ​

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openUBMC版本号修订日期修订内容
25.062025/06/26初稿，新增命令详情

相关命令：

启动/停止测试（Start DFT Test） 启动/停止测试（Start DFT Test）

获取测试结果（Get DFT Test Result）获取测试结果（Get DFT Test Result）

表1 DFT定义 ​

类型类别Component Type十六进制DFT ID十进制DFT ID中文名称英文名称机型测试场景
1：可以自检
dft id <1h-40h>		器件
<1-20h>		-0x011LM75LM75--
---0x022LM80LM80-多路巡检串行数字接口温度传感器。实现单板电源电压和环境温度的监控，LM80内部集成7路电压A/D转换通道和1路温度传感器
---0x033PCA9555PCA9555-9555是I2C扩展IO口的功能，当你的IO口数量不够用的时候，可以用一个I2C通道（只使用2根线），扩展出16个IO接口出来
前4位为固定“0100”，A2A1A0为可编程的位，最后一位为读写控制位。
---0x044PCA9545PCA9545--
---0x055PCA9517PCA9517--
---0x066INA220INA220--
---0x077纽扣电池Button Cell Voltage--
---0x088电源Power Supply--
---0x099MEME--
---0x0a10U盘抽样测试SD Card Sample Test--
---0x0b11FLASHFlash--
---0x0c12EEPROMEEPROM--
---0x0d13DDR3DDR3--
---0x0e14SRAMSRAM--
---0x0f15CPLDCPLD--
---0x1016CPU电压CPU Voltage--
---0x1117内存电压Memory Voltage--
---0x121812V电压12V0 Voltage--
---0x13195V电压5V0 Voltage--
---0x14203.3V电压3V3 Voltage--
---0x1521SD卡/U盘在位SD Card Presence-用于早期SD卡/USB设备直连BMC的单板，现已废弃
---0x1622TPM卡在位测试TPM Card Presence--
---0x1723LM96080LM96080--
---0x1824SD卡在位测试SD Card Presence-用于SD卡通过RAID控制芯片连接BMC的单板
---0x1925SD卡随机读写测试---
---0x1a26Hi1710寄存器扫描测试Hi1710 Test--
---0x1B27CLK测试CLK Test-仅用于9032
---0x1C28网口装备自检-MM920MM9212023.12.4：与通用自检冲突，废弃
---0x1C28NAND FlashNAND Flash-用于自检BMC的NAND Flash，包括（1）可用寿命低于50%（2）预留块低于总预留块70%，两者任意一个满足，自检失败，否则，自检成功
-总线
<21h-40h>		-0x2133I2CI2C--
---0x2234LPC(KCS/BT)LPC--
---0x2335IPMBIPMB--
---0x2436LocalBusLocalBus--
---0x2537PCIePCIe--
---0x2638PWMPWM--
---0x2739Lan Switch测试Lan Switch Test-被9032占用，无记录
---0x2840CPLD Self POSTCPLD Self POST-被9032占用，无记录
---0x2941PECIPECI-BMC与x86 CPU之间的PECI链路测试，需要x86 CPU上电
---0x2A42USB端口切换测试USB Port Switch-面板的USB端口可以在PCH和BMC之间通过切换实现动态功能，此测试项主要是测切换通道是否正常
---0x2B43时钟信号自检Clock Signal Test-通过CPLD寄存器值判断时钟信号是否正常（支持多个信号同时检测）
---0x2E46板间心跳环回测试Heart Beat Loop Test-控制板间心跳环回测试，用于装备背板下板间网口环回测试。
---0x3250外部硬件接口通用测试External Hardware General Test-用于通过控制硬件接口启动/停止测试，并从硬件接口获取测试结果的通用测试场景。比如，通过CPLD寄存器控制各种器件的自检，自检结果也是通过读取特定的CPLD寄存器来确定，比如Hisport链路。
2： 需要前提条件
dft id <41h-60h>
说明：考虑到类型非1的，部分装备测试项会绑定dft id（大于64），故每种类型支持独立编号部分使用1-64。		--0x011交换机网口测试-DA123CGE或者NCSI网口通过线缆直接对接到交换机，测试网口能否正确接收交换机报文功能
DFT参数：
DftId：0x01
DftType：0x02
DftParam：NA
Manufacture资源信息：
path：/bmc/kepler/Manufacture/PrepareTest/DftSwitch/:Id
interface：bmc.kepler.Manufacture
---0x4165键盘Keyboard-需要OS上电
---0x4266虚拟光驱Virtual CD-ROM-需要OS上电
---0x4367虚拟软驱Virtual Floppy Drive-需要OS上电
---0x4468VCEVCE-需要设置屏幕图片
---0x4569JTAG链路JTAG-需要对端接CPLD
---0x4670SPI（BMC到挂在CPLD下的flash通道）SPI--
---0x4771BMC串口BMC UART-需要串口环回头
---0x4872LCD串口LCD UART--
---0x4973NSCINSCI-BMC网口环回测试
---0x4a74管理网口Ethernet Port-测试场景：
**场景1、通用机架：**网口环回测试，对应V2函数dft_net_mgmt_test
机架场景，网口通用自环测试（TU日落中，缺点：不具备测试网口速率），nic_magloop_test%hi1710 ：https://anytestlab.huawei.com/business/tuManage/detail?pageTitle=nic_magloop_test%25hi1710_107
机架场景，网口通用归一测试（新开发TU，收编网口自环，用于网口连通性&速率测试），nic_ping_test_tobmc_arm
TU实现机制：优先通过连通性&速率测试，若不通过，再尝试通过自环用例测试。（2024.6.11切换中，可以测试网络速率）：https://anytestlab.huawei.com/business/tuManage/detail?tuSolutionId=1000028680

**场景2、TCE/TianGong双平面测试方案：**通过机框的内网IP的连通性覆盖刀片到管理板之间的两条网络链路。
BMC V2参考函数：dft_net_base_test
**机框场景，网口测试TU（TCE/TianGong），**base_lswtobmcloop_test%CN90GPUA：https://anytestlab.huawei.com/business/tuManage/detail?pageTitle=base_lswtobmcloop_test%25CN90GPUA_102
---0x4b75内存板电压测试Memory Board Voltage--
---0x4d77BMC时钟测试---
---0x4e78跳帽自检Jumper selftest--
---0x4f79后插板主板与扣板间链路检测FC Link Test仅用于CX916、CX220后插板特性
---0x5080M8PB固件加载M8PB FW Load仅用于CX916、CX220后插板特性
---0x5181Lan Switch测试Lan Switch Test--
---0x5282XCUJ保留通道测试XCUJ保留通道--
---0x5383风扇测试Fan Test-param1：测试的风扇转速级别数量(如40，50，80，100四个测试级别)
param2：每个转速级别的稳定时间(默认20S)
para3:fanlevel1
para4:fanlevel2
…
paran:fanlevelm
---0x5484硬件通道测试，HW Channel Test，HW Channel TestBM320、鲲鹏920B使用
X6800装备背板信号环回测试		举例：
场景1：IIC通道、IIC从设备测试
场景2：通过SMC读取一部分数据，对其中数据做校验
e.g.：测试项DftHwChannel_Cpld_Gpio4
支持的Operator如下1-6取值定义： -- num1为实际读取数据和CSR配置“InputMask”做“与”动作后 -- num2为CSR配置的InputValue local function calculate ( num1 , num2 , operator ) local operators ={
[ 1 ]= function ( a , b ) return a < b and OK or ERR end ,
[ 2 ]= function ( a , b ) return a <= b and OK or ERR end ,
[ 3 ]= function ( a , b ) return a > b and OK or ERR end ,
[ 4 ]= function ( a , b ) return a >= b and OK or ERR end ,
[ 5 ]= function ( a , b ) return a == b and OK or ERR end ,
[ 6 ]= function ( a , b ) return a ~ = b and OK or ERR end ,
} return operators [ operator ]( num1 , num2 ) end
AtlasT_200_CSR - 文件 (huawei.com)
---0x5585NI自环测试，NI Loop Test，NI Loop Test仅用于9032-
---0x5686NC串口环回，NC Serial Loop Test，NC Serial Loop Test仅用于9032-
---0x5787NI眼图测试，NI EYE Test，-仅用于9032-
---0x5787PHY端口环回测试，Phy port loop test，"FT阶段环回：插入环回头，装备背板Phy port loop test仅用于E9000后插板device id为端口编号，取值范围0-31表示32个端口，0xff表示所有的端口；
param1:
1表示物理自环多端口串联环回测试（用于正常FT测试，BMC目前只配置模式，不发包，后续由BMC发包测试。device id建议取为0xff，一个命令启动测试和查询结果）；
2表示逻辑自环多端口串联环回测试（用于FT精确定位，BMC目前只配置模式，不发包，后续由BMC发包测试。device id建议取为0-31）；
3表示逻辑自环单端口环回测试（用于ST测试，BMC目前只配置模式，不发包，后续由BMC发包测试。device id建议取为0xff，一个命令启动测试和查询结果）。
---0x5888ST阶段环回：不用环回头，前插板"--参数：
param1：FruID，1个字节
param2：TimeOut，检测超时时间，该时间需要大于复位的正常时间，单位是S，1个字节（目前该命令用于装备XCUL单板IB芯片复位测试）
---0x5989IO读测试，IO Read Test，对IO进行读测试--参数：
param1：需要写的值
param2：预留配置为0即可
---0x5A90IO写测试，IO Write Test，对IO进行写测试IO Write Test仅用于9032仅用于9032，跨BMC/NI对接测试
---0x5B91NI对接测试，NI Peer-to-Peer Test，NI端口对接测试NI Peer-to-Peer Test仅用于MM921当前仅用于MM921，通过外置U盘进行读写测试
---0x5C92USB读写测试USB RW Test仅用于MM921当前仅用于MM921，通过外置U盘进行读写测试
---0x5D93RS485半双工串口测试RS485 Half-duplex Test仅用于RM210当前仅用于RM210，全双工测试可用串口环回测试（71）
---0x5E94Type-c读写测试Type-C Test-Type-C接口读写测试
参数：
param1:
1：表示只对USB设备进行格式化处理；
其他值：表示按Type-C读写流程处理。
---0x5F95光模块在位检测Optical Module Test-检测光模块端口在位
设备编号（DevNum）为：0、1、2、3，分别对应光模块SFP0、SFP1、SFP2、SFP3
---0x6096测试Riser卡链路--通过装备工具卡测试Riser标准卡场景
3：拷机项目
dft id
<61h-80h>

使用约束：
<65h-80h>不允许装备直接绑定DFT ID，需要通过Component Type和DFT ID来匹配唯一测试项		--0x6197SD卡全盘测试SD Card Overall Test--
---0x6298内存VDDQ电压拉偏测试VDDQ Volt test-参数：
param1:电压拉偏百分比，取值范围[-4,4]；
param2：预留配置为0即可
---0x6399IO VDDN电压拉偏测试IO VDDN TestTaishan参数：
param1：电压拉偏百分比，取值范围[-5,5]；
param2：预留配置为0即可
---0x64100CPU核心VDDAVS电压拉偏测试CPU Core AVS TestTaishan参数：
param1:电压拉偏百分比，取值范围[-5,5]；
param2：预留配置为0即可
CPU:0--0x65101CPU加严测试CPU Voltage-参数：
param1：加严测试类型
0：FIX，
1：AVS，
2：MBIST
param2：电压拉偏百分比，若使用硬件默认拉偏百分比时，填写0xFF
param3：预留配置为0即可
---0x66102CPU加严测试CPU Voltage--
---0x67103CPU加严测试CPU Voltage--
4：需要人工检查结果
dft id
<81h-A0h>		--0x81129LEDLED--
---0x82130数码管Lamp Tube--
---0x83131LED诊断面板LED Panel--
---0x84132LED防呆LED Fool-proofing-LED指示灯防呆测试
参数：
param1: 防呆测试模式类型，1个字节，取值范围[0,1]
0-表示常亮模式
1-表示闪烁模式
---0x85133数码管防呆Digital Tube Fool-proofing-数码管防呆测试。数码管显示3个数字：param1 param2 param3
参数说明：
param1:必填，取值范围[0,9]
param2:选填，取值范围[0,9]。若不填，数码管第2个数字显示param1
param3:选填，取值范围[0,9]。若不填，数码管第3个数字显示param1
5：需要人工操作
dft id <A1h-C0h>		--0xA1161扳手Handle--
---0xA2162UID ButtonUID Button--
---0xA3163PowerButtonPowerButton--
---0xA4164LCD自检测试LCD Selftest--
---0xA5165液晶屏校准LCD Calibrate--
---0xA6166液晶屏指示灯LCD Lamp--
---0xA7167液晶屏背光指示灯LCD Back Light--
---0xA8168液晶屏坏点LCD Dead Pixel--
---0xA9169液晶屏在位LCD Presence--
---0xAA170按钮测试Button Test--
---0xAB171SwitchSwitch Test-0表示闭合，1表示断开
---0xAC172MCUMCU Test-用于自研PCIe卡的管理芯片(Micro Control Unit)装备测试
IPMI命令中的Device ID具体定义如下：
1：主控芯片内部自检项
2：MCU管理的PCIe卡主控芯片外围设备自检
3：MCU管理的PCIe卡面板按钮测试
4：MCU管理的PCIe卡面板指示灯测试
5：MCU日志清除测试
6：MCU自愈功能测试（由按钮触发）
7：MCU触发降频中断测试
8：MCU控制芯片下电测试
---0xAD173漏液检测卡电磁阀测试Magnetic Valve Test-写PCA9555寄存器开/关电磁阀，然后读另一个PCA9555寄存器检测电磁阀开/关状态
---0xAE174漏液检测卡漏液检测告警测试Leak Alarm Test-写PCA9555寄存器模拟漏液告警产生/消除，然后读另外一个PCA9555寄存器检测漏液告警状态
---0xAF175NPU过温保护测试Npu High Temp Protect Testatlas800装备从带内注入故障触发cpld信号，然后从带外查询cpld寄存器获取过温状态
6：机型自定义
dft id
<C1h-FFh>

备注：同一个机型的dft id定义不允许冲突		公共-0xC3195机箱盖开盖检测、测试Chassis Cover Open Test-用于开箱测试中检测机箱盖开关状态
---0xC6198SECURITY PANEL TESTSECURITY PANEL TEST-用于安全面板测试项装备测试
-TianGong-0xC1193CAN通道测试--用于CAN通道环回测试，CAN通道发出测试数据，在BMC串口读取对应的数据。
装备测试项：https://anytestlab.huawei.com/business/tuManage/detail?pageTitle=can_test_it22smma_101
-TCE-0xC1193计算板CDR测试-TCE计算板-
-废弃-0xC1193SOL串口SOL UART--
---0xC2194风扇Fan--
-TaiShan-0xC419660盘硬盘抽屉拉出测试60-disk drawer pull out Test-用于TaiShan 5290 60盘硬盘抽屉拉出测试
-存储-0xC5197PENGEA FT TESTPENGEA FT TEST盘古V6R5用于盘古V6R5产品（太平洋、北冰洋、大西洋）装备测试
IPMI命令中的Device ID具体定义如下：
1：风扇板点灯测试
2：光模块上下电测试
-E9000-0xC2194管理板网口装备自检-MM920
MM921
TCE管理板		-