问题背景 ​

• 单板类型：自研板；
• 软件版本：openUBMC 25.03；
• 涉及功能：OS下电，日志记录；
• 触发条件：OS侧执行下电操作，查看BMC记录的日志；
• 业务表现：预期正常打印日志无日志刷屏现象；实际出现刷屏日志。

问题复现步骤 ​

OS侧执行下电操作，一键收集后查看BMC侧记录的日志。

关键日志信息 ​

app.log日志截图如下：

定位过程 ​

根据app.log日志查找代码进行分析，发现函数register_get_pcie_info_task会一直调用pcie_card_obj:get_pcie_lang_info(device_obj)去获取属性LinkWidth，LinkWidthAbility，get_pcie_lang_info调用pcie_get_capid_addr函数，调用失败则打印日志

```text
log:error("get_pcie_lang_info: get cap id addr failed.")；
```

pcie_get_capid_addr调用get_pcie_info_from_ipmi函数，调用失败则打印日志

log:error("pcie_get_capid_addr: failed to get first cap id.")；

get_pcie_info_from_ipmi函数发送ipmi命令失败后会打印日志

log:error('get pci register info failed, error: %s', result)。

刷屏日志对应error级别日志是否在异常情况下必须循环打印以方便问题定位，必须打印，则该问题为非问题，不是必须打印，则可考虑将该日志级别进行降级处理。

问题原因 ​

OS下电，pcie_device组件函数执行异常后，循环打印error级别日志，导致的日志刷屏。

解决方案 ​

经确认，该函数仅存在协助定位功能，可将error级别日志打印降级到debug，定位问题时可attach到pcie协助定位问题即可。具体代码修改如下：